グローバル特許検索・分析ツール

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シンガポール発のPatSnap社が提供するグローバル特許検索・分析ツールです。世界約150カ国以上の特許・意匠データ（意匠は81カ国）および1億5000万以上の非特許文献、79カ国のリーガルステータス、69カ国のライセンス情報、59カ国の訴訟情報などの豊富なデータを収録しています。また強力な分析機能も搭載しており、簡単なボタン操作から業務に活かせるような気づきを提供します。

幅広い検索方法で知財調査業務を支援

PatSnapでは同じインターフェイスからタブを切り替えることで、様々な検索に対応します。（簡易検索/高度検索/番号一括検索/セマンティック検索/拡張検索/分類検索/法的状況検索/画像検索/化学構造式検索/文献検索）

検索結果からはパワフルなフィルターや出力機能、ワークスペースなどが利用でき、利用者の調査業務を支援します。

全収録特許を日本語で検索・表示

PatSnap Analyticsでは全収録特許を日本語で検索し、表示させることができます。これにより日本のお客様は、より早く、より簡単に必要な特許を見つけることができます。

簡単な操作で世界各国の特許/意匠を分析

検索結果の母集団を簡単なボタン操作で統計およびグラフ分析が可能です。分析を開始すると、「概要」ページが表示され、6つのデフォルトのグラフ形式で結果のスナップショットを確認できます。さらにカスタム分析で詳細な分析も可能です。作成した分析結果はExcelとしてデータ出力やイメージデータとしての出力が可能です。

調査業務を効率化するワークスペース機能

PatSnapのワークスペースでは、調査リストの共有、重要な特許の取得、独自のメモの作成を行うことができます。調査結果を同僚と共有し、同じデータセットで作業することができるため、作業の重複をなくすことができます。

保存したリストはフィルタリングや、別のリストへ移動等も可能です。自動更新を設定することで関連する新着特許を追加していくこともできます。

非特許文献検索（NPL検索）

1億5000万以上もの非特許文献を名称/要約/著書/ジャーナル/化学データから検索ができます。また検索結果は公開年、著者名、ソースなどで絞り込みが可能です。

特許情報を視覚的に評価

3Dランドスケープ機能を利用して特許情報を視覚的な地形に変換することで、膨大な量のデータを評価します。出願された発明（または類似の発明）がすでに特許化されているかどうか、または特定技術分野および主要な出願人の特許活動のレベルに関する質問について答え、イノベーションの新しい機会を特定することを手助けします。